English
version

Новости

25 марта 2018 Вебинар Moortec: роль встроенного мониторинга технологического процесса и напряжения в системах на кристалле

25 марта 2018 года — Компания Moortec проведет 25 апреля 2018 года вебинар «Роль встроенного мониторинга технологического процесса и напряжения в системах на кристалле». Вебинар начнется…

2 февраля 2018 Moortec объявила о выпуске встраиваемой в кристалл подсистемы мониторинга на технологии 12FFC TSMC

2 февраля 2018 года — Компания Moortec объявила о выпуске своей легко интегрируемой высокоточной встраиваемой подсистемы мониторинга, выполненной с использованием 12 нм технологического процесса FinFET Compact…

14 июля 2017 Новый веб-семинар Moortec: встроенный мониторинг — как оптимизировать мощность и быстродействие чипов на основе FinFET

14 июля 2017 года — Компания Moortec проведет 19 июля 2017 года веб-семинар «Встроенный мониторинг — как оптимизировать мощность и быстродействие чипов на основе FinFET», сообщает…