English
version

Новости

Все теги
Подписаться на новости

Подпишитесь на рассылку, чтобы всегда быть в курсе последних новостей в мире технологий

Вы успешно подписались!

Мы отправили вам на указанный адрес письмо со ссылкой-подтверждением.

Закрыть
2 февраля 2018 Moortec объявила о выпуске встраиваемой в кристалл подсистемы мониторинга на технологии 12FFC TSMC

2 февраля 2018 года — Компания Moortec объявила о выпуске своей легко интегрируемой высокоточной встраиваемой подсистемы мониторинга, выполненной с использованием 12 нм технологического процесса FinFET Compact…

14 июля 2017 Новый веб-семинар Moortec: встроенный мониторинг — как оптимизировать мощность и быстродействие чипов на основе FinFET

14 июля 2017 года — Компания Moortec проведет 19 июля 2017 года веб-семинар «Встроенный мониторинг — как оптимизировать мощность и быстродействие чипов на основе FinFET», сообщает…