English
version

Новости

25 марта 2018

Вебинар Moortec: роль встроенного мониторинга технологического процесса и напряжения в системах на кристалле

25 марта 2018 года — Компания Moortec проведет 25 апреля 2018 года вебинар «Роль встроенного мониторинга технологического процесса и напряжения в системах на кристалле». Вебинар начнется в 18.00 по британскому летнему времени (20:00 МСК). Вебинар предназначен для разработчиков СнК и инженеров, работающих с КМОП технологиями на продвинутых узлах, включая 40 нм, 28 нм, 16 нм, 12 нм и 7 нм.

В ходе вебинара специалисты Moortec продемонстрируют, как мониторинг технологического процесса и напряжения позволяет повысить производительность и надежность проекта, и как это можно использовать для построения различных систем управления электропитанием.

Традиционно температура — это тот параметр, о котором разработчики думают в первую очередь, когда дело касается мониторинга состояния чипа. Однако в сложных проектах на продвинутых узлах не менее важным становится мониторинг процесса и напряжения. Разработчики сталкиваются с целом рядом проблем: нестабильность технологического процесса, нарушения времени прохождения сигналов, чрезмерное энергопотребление, эффекты старения. Любая из этих проблем сама по себе приводит к тому, что СнК функционирует не так, как ожидалось.

Moortec предлагает законченные IP-решения для подсистем мониторинга PVT (технологического процесса, напряжения и температуры) на узлах 40 нм, 28 нм, FinFET и 7 нм. Решения Moortec помогают клиентам улучшить наблюдение за динамическим и статическим состояниями чипов с целью оптимизации производительности устройств и повышения их надежности. Будучи единственным разработчиком IP, предназначенных для мониторинга PVT, Moortec на сегодняшний день является основным экспертом в этой области.

Зарегистрироваться на семинар можно здесь.