English
version

Новости

13 февраля 2019

Вебинар от Moortec: «Преимущества встраиваемого в чип мониторинга при проектировании чипов для дата-центров и искусственного интеллекта»

13 февраля 2019 года — Компания Moortec проведет для всех желающих вебинар на тему «Преимущества встраиваемого в чип мониторинга при проектировании чипов для дата-центров и искусственного интеллекта, изготовляемых по современным техпроцессам». Вебинар состоится в среду, 27-го февраля 2019 года в 21:00 МСК. Зарегистрироваться на вебинар можно здесь.

Если вы проектируете чипы по современным техпроцессам для дата-центров и искусственного интеллекта (ИИ), то наверняка знакомы с такой проблемой, как загрузка ЦПУ в контексте энергопотребления и вычислительной мощности устройства и другими. Самые передовые чипы для дата-центров и искусственного интеллекта, изготовленные по современным технологическим нормам, по своей природе чувствительны к вариациям параметров техпроцесса на чипе. Кроме того, проектирование разработчиками часто ведется на грани допустимых ограничений.

Вебинар от Moortec покажет, как оптимизация температуры и напряжения питания, а также идентификация углов техпроцесса с помощью встраиваемой в чип подсистемы мониторинга поможет существенно улучшить энергопотребление, пропускную способность и вычислительную мощность системы в целом.

На вебинаре будут рассмотрены следующие вопросы:

— Регулировка допусков по температуре и напряжению

— Энергопотребление системы

— Оптимизация по площади в многоядерных проектах

— Оптимизация вычислительной мощности и пропускной способности алгоритмов

— Точная подстройка управления питанием (DVFS/AVS tuning)

Пресс-служба НАУТЕХ