Preloader Close

Тестирование полупроводниковых пластин и микросхем в корпусе

Тестирование

Налаженная НАУТЕХ инфраструктура тестирования (CP/FT/RA) позволяет заказчикам оптимизировать затраты на производство кристаллов, корпусированных микросхем и микросборок. НАУТЕХ предоставляет услуги тестирования на пластинах (OWT/CP), финального тестирования (FT) и квалификации изделий (RA), услуги по разработке программ тестирования, проб-карт и загрузочных плат. НАУТЕХ является крупнейшим в России поставщиком тестовой оснастки и контактирующих устройств.

В услуги по тестированию кремниевых пластин и микросхем входит:

  • подбор и разработка аппаратной и программной частей тестового решения;
  • разработка оснастки для программно-аппаратного комплекса;
  • автоматизированное тестирование пластин до 12” и микросхем в различных корпусах;
  • квалификационные испытания готовых изделий и анализ причин отказов;
  • выпуск электронных карт годности;
  • оптимизация процесса выхода годных;
  • тестирование в нормальных условиях, при повышенной и пониженной температурах;
  • подбор и поставка контактирующих устройств для тестирования.

ВИДЕО: ПОДРОБНО О ТЕСТИРОВАНИИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ