Налаженная НАУТЕХ инфраструктура тестирования (CP/FT/RA) позволяет заказчикам оптимизировать затраты на производство кристаллов, корпусированных микросхем и микросборок. НАУТЕХ предоставляет услуги тестирования на пластинах (OWT/CP), финального тестирования (FT) и квалификации изделий (RA), услуги по разработке программ тестирования, проб-карт и загрузочных плат. НАУТЕХ является крупнейшим в России поставщиком тестовой оснастки и контактирующих устройств.
В услуги по тестированию кремниевых пластин и микросхем входит:
- подбор и разработка аппаратной и программной частей тестового решения;
- разработка оснастки для программно-аппаратного комплекса;
- автоматизированное тестирование пластин до 12” и микросхем в различных корпусах;
- квалификационные испытания готовых изделий и анализ причин отказов;
- выпуск электронных карт годности;
- оптимизация процесса выхода годных;
- тестирование в нормальных условиях, при повышенной и пониженной температурах;
- подбор и поставка контактирующих устройств для тестирования.
ВИДЕО: ПОДРОБНО О ТЕСТИРОВАНИИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ